尘埃粒子无处不在 洁净室电路板清洁度测试方法

测试程序还可以帮助评估样品的一致性，质量水平和外部成分的百分比。红外辐射穿过材料，形成一个光谱，该光谱用于照亮样品的分子吸收和透射的独特特性。与计算机生成的算法结合使用，它是识别材料的定量分析的准确方法。

FTIR是一种非破坏性技术，可以为红外光谱分析的色散或滤光方法提供更好的替代方法。它更精确，并且只需一台机器即可提供机械上简单的测量过程。FTIR清洁度测试的其他属性包括提高的扫描灵敏度水平和更高的光通量，两者相结合来减少外部噪声的存在。

FTIR的最大优势通常是过程速度。以前，洁净度测试中使用的分散仪器提供了缓慢的扫描过程，从而影响了工程和制造的生产率。FTIR技术如此先进，以至于它可以通过干涉仪产生的独特信号同时测量所有红外频率。因为可以在几秒钟内测量信号，所以该过程减少到以前可接受的标准的几分之一。

通过（IC）进行的分析为选定用于测试的特定离子种类提供了与清洁度有关的数据。与FTIR相似，某些特定的离子物质可能会导致腐蚀或引起电气性能问题。通过IC清洁度测试获得的数据可用于与已知要求进行比较，用于建立过程“控制”或用于调查更广泛的“故障分析”主题。

IC测试可对带正电和带负电的离子的材料进行精确的定性和定量测定。离子色谱法可以分离和检测痕量离子物质和其他物质，从硅酸盐和碳水化合物到氨基和弱有机酸。IC的主要优势之一是能够分析分子种类，而不是关注现有元素。使用这种清洁度测试方法，可以确定所有类型的分子材料和矿物质的质量，以及从食品和饮料产品到土壤和水样的所有物质的纯度。在洁净室检测中，适合检测尘埃种类，是金属粉尘还是土壤飞尘，从而分析出，洁净室需要加强管控方向。